在材料科學、納米技術及先進制造等領域,對微觀結構的高精度觀測需求日益增長。IXplore Pro 全電動倒置顯微鏡系統應運而生,憑借其自動化多維觀測功能、寬視場成像能力以及先進的圖像處理技術,為研究人員提供**、精準且靈活的成像解決方案。
IXplore Pro 配備業界 26.5 mm 視場數(FN),顯著提升單次采集的信息量。相比傳統系統,該設計可在更少圖像數量下覆蓋更大區域,從而大幅減少圖像拼接操作,提高整體工作流程效率。結合智能陰影校正與專利平整度控制技術,確保在整個視場范圍內實現邊緣 ...