IXplore IX85 Spin 是一款集高速、高分辨率與穩定性能于一體的全電動倒置顯微鏡系統，專為復雜材料和精密結構的動態觀測而設計。該系統搭載 Yokogawa CSU-W1 轉盤共聚焦單元，能夠在長時間觀測中實現快速3D圖像采集，同時**降低激發過程中的信號衰減和環境干擾。
高速3D成像與Z軸穩定性
IXplore IX85 Spin 通過其先進的轉盤共聚焦技術，支持在寬視場下進行**三維數據采集，特別適用于連續動態過程的高精度記錄。TruFocus Z漂移補償系統確保在長時間運行中每一幀圖像的清晰度，避免因位置偏移導致的數據失真，從而提升整體成像的準確性和重復性。
系統配備 X Line光學組件，優化了光信號的收集效率，進一步增強圖像對比度和細節還原能力。此外，新型 LUPLAPO25XS 多層介質物鏡結合自動校正技術，實現了更高的數值孔徑與長工作距離，使用戶能夠深入探測復雜樣本內部結構，如多層薄膜、微流控芯片等。
清晰圖像與深度解析能力
借助 TruSight 圖像優化算法，IXplore IX85 Spin 在大深度范圍內依然能提供高質量的三維圖像。Yokogawa 轉盤裝置獨特的針孔排列設計**抑制背景干擾，提高圖像清晰度，尤其適用于多通道信號同步采集和拼接處理。
多通道同步成像與擴展性
IXplore IX85 Spin 支持多波長光源配置，激光模塊可從兩條擴展至六條（包括405 nm、445 nm、488 nm、514 nm、561 nm 和 640 nm），并兼容多傳感器協同工作，滿足高速、多參數信息同步采集的需求，適用于復雜系統的實時監測。
作為 IXplore IX85 顯微鏡系統的升級版本，IXplore IX85 Spin 提供更廣視野、更快采集速度及更高圖像質量，是先進材料研究、微納加工檢測以及工業分析中不可或缺的成像平臺。無論是微觀結構演化、表面形貌追蹤，還是復合材料內部特征識別，IXplore IX85 Spin 均能提供穩定**的解決方案。
全電動倒置顯微鏡：https://lifescience.evidentscientific.com.cn
產品連接：https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/microscopes/inverted/ixplore-ix85-spin/